Método de crecimiento CZ fabricado con el proceso de crecimiento CZ Czochralski, asegurando uniformidad y calidad
Especificaciones 4 pulgadas de diámetro, 525m de espesor, empaquetado individualmente en cajas para protección
Especificaciones Tipo N dopante P orientación 100 especificaciones de superficie TIR 3m, TTV 10 m, ARCO 10 m, rugosidad 0,5 nm, asegurando un rendimiento preciso y confiable en aplicaciones de semiconductores
Si recibe dañado, por favor vuelve a nosotros inmediatamente lo resolveremos hasta que esté satisfecho











